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X熒光光譜儀
X熒光光譜儀
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詳情說(shuō)明 / Details

能量色散X熒光光譜儀,簡(jiǎn)稱(chēng)XRF,是一種物理的元素分析方法,具有快速、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢,在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業(yè)廣泛應用。
 

1 儀器型號 ZL-3049
2 儀器測試范圍 從硫S-鈾U之間的元素
RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br    + 鹵素
合金:銅材,鐵合金,鎳合金,錫合金,鈦合金,貴金屬
鍍層:Ag/Sn/Au/Ni—Cu,Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe
3 樣品種類(lèi) 固體、液體、粉末、顆粒;
4 檢出限 RoHS:≤2ppm
成分分析:0.01%--99.99%
鍍層分析:0.0035um--40um
5 精度 0.05%
6 測試時(shí)間 60s-300s(軟件自動(dòng)調整)
7 攝像定位系統 800萬(wàn)真像素高清定位系統
8 X射線(xiàn)光管使用壽命 大于20000小時(shí)
9 探測器 美國Amptek公司原裝進(jìn)電制冷Si-Pin 探測器 
分辨率145ev±5
10 高壓電源 0-50kev,0-2mA ,50W
11 高壓保護措施 過(guò)壓自保護,自恢復
12 準直濾光系統 X射線(xiàn)光斑直徑:φ1mm、φ3mm、φ4mm
濾光系統:9種復合材料濾光片
13 工作環(huán)境溫度: 溫度 :15-30℃  ;濕度:≤75% (不結露)
14 輸入電源: AC 220V±15%,50Hz
15 儀器尺寸: 650mm*450mm*350mm
16 測試樣品腔尺寸: 280mm*280mm*200mm
17 輻射防護標準: 遠高于國標GB18871-2002 GBZ115-2002標準